3.韋克斯勒分測(cè)驗(yàn)與全量表平均分比較剖面圖中的S表示該測(cè)驗(yàn)是( )。

A.強(qiáng)點(diǎn)

B.弱點(diǎn)

C.低點(diǎn)

D.高點(diǎn)

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